• Hành trình trục X-Y-Z: 250*150*150mm
• Độ phân giải trục: 0.001mm/0.00005”
• Độ chính xác phép đo: ±(2+L/200) µm
• Vật liệu cơ khí: Bằng đá granite
• Hệ thống hình ảnh: Camera Sony 1.3M pixels kết hợp với cảm biến hình ảnh CCD
• Độ phóng đại ảnh: 20~125X (có thể mở rộng lên đến 10~250X)
• Hệ thống điện: Bộ điều khiển đa trục PCI
• Hệ thống lấy nét: Tự động bằng động cơ xoay chiều kết hợp với bàn phím điều khiển
•  Hệ thống ống kính: Ống kính lấy nét 0.7-4.5X
• Hệ thống quang học: 6 Led trên dưới có thể điều chỉnh trực tiếp qua máy tính
• Hệ thống máy tính: CPU kết hợp với màn hình màu 18.5” 16:9 LCD
• Phần mềm: Jingstone Metrology 2D
• Báo cáo kết quả: Word, Excel, DXF, SPC
• Nguồn cung cấp: 110-220VAC/50-60Hz

Bộ sản phẩm

• Chân đế granite
• Trục Z granite chữ T
• Bộ quay trục Z
• Con lăn
• Bộ khóa định vị
• Bàn đo bằng kính
• Bộ định vị bằng Laser
• Ống kính tự động lấy nét
• Thanh chia tỉ lệ trục
• Bộ điều khiển lấy nét
• Tấm hiệu chuẩn quang học
• Bàn gia công dụng cụ bằng thép (bề mặt đá cẩm thạch)

Thương hiệu: METROLOGY

Máy đo mẫu 2D tự động lấy nét bằng hình ảnh Metrology IMI-AF250

Thương hiệu

METROLOGY

• 2021 General Catalog METROLOGY
• Non-destruction Testing Equipment Catalog METROLOGY
• Calibrator Catalog METROLOGY
• Hardness Testing Equipment Catalog METROLOGY
• Optical Microscope Catalog METROLOGY
• Measuring Gauge Catalog METROLOGY
• Dial Indicator Catalog METROLOGY
• Granite Master Gauge Catalog METROLOGY
• Micrometer Catalog METROLOGY
• Caliper Catalog METROLOGY